Mikrokapcsolók élettartamának vizsgálata - Sipkás, Vivien; Vadászné Bognár, Gabriella (Jelenkori Társadalmi és Gazdasági Folyamatok, 2017)
A vizsgált mikrokapcsolók meghibásodási analízise során a gyorsított élettartam vizsgálati módszert kívánjuk alkalmazni. A tesztsorozatok eredményeinek elemzésekor meghatározzuk az ún. Weibull-eloszlás paramétereit és vizsgáljuk a tönkremeneteli és meghibásodási folyamatok hatását a mikrokapcsolók élettartamára vonatkozóan.